收费标准

仪器设备名称 <服务内容 外收费标准(元/样/机时)
高加速老化测试 高加速湿热老化(双85加速模式) 50元/小时(小于24小时内),30元/小时(大于24小时)
紫外老化试验箱 材料紫外老化特性测试 10元/小时
1260A阻抗分析仪+探针台 电容频率(C-F)关系曲线,阻抗-频率关系曲线等 100元/样
半导体参数分析仪+探针台 器件基本电学特性曲线,包括I-V,C-V,I-t等曲线等 150元/小时
反射率测试仪 材料表面反射光谱测试 100 元/样
电化学CV测试系统(CVP21型) 半导体材料导电类型,pn结结深以及载流子浓度分布 200元/样
HP-5500霍尔测试系统 半导体薄膜霍尔系数  方块电阻测试范围:10-4Ω/ð~106Ω/ð, 载流子浓度测试范围:106cm-3~1021cm-3, 迁移率测试范围:1cm2/V·s~107cm2/V·s, 样品形状要求:1cmx1cm 120元/样
四探针测试仪 方块电阻/电阻率 50元/样
全自动台阶仪 薄膜表征与分析:测量单层至多层薄膜的厚度、折射率、消光系数等光学常数,适用于半导体、光学镀膜、光伏等领域 100元/样
光谱椭偏仪

半导体与微电子领域:用于晶圆、光刻胶、薄膜的台阶高度、表面形貌及厚度测量,支持工艺优化与质量控制。
材料科学研究:分析纳米级涂层、微结构器件的三维轮廓,评估材料均匀性与加工精度

300元/样
瞬态吸收光谱仪 测试溶液、薄膜样品的瞬态吸收光谱 1500 元/样
联系人:丁雪君  联系电话:0574-86324682