四探针测试仪
CRESBOX半自动四探针测试仪可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻。具有图谱软件功能,可作二维、三维图形;具有厚度/边缘/温度补偿功能;全覆式暗箱测试清除测量环境干扰;内含温度传感器与方便联机的USB接口。
2024-10-12
开放平台
仪器设备
四探针测试仪
2024-10-12
探针台
2024-10-12
紫外老化试验箱
2024-10-12
阻抗分析仪
2024-10-12