高加速老化测试 - 光电信息材料与器件实验室 - optoelec-lab.nimte.ac.cn

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仪器设备

高加速老化测试

制造商：HIRAYAMA
型号：PC-422R8
到货日期：2011年

适用范围及特点：该仪器适用于电子设备的高加速温度和应力测试。

主要技术参数：

使用温度范围: 105~150℃
湿度范围: 65~100% RH

联系方式：李佳 13958210148， lijia@nimte.ac.cn

实验室：科研楼 E720

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